Vés al contingut (premeu Retorn)

Sou a: Inici / Infraestructures científiques / Materials avançats / Laboratori de Microscopia - Besòs

Laboratori de Microscopia - Besòs

El laboratori de Microscòpia Electrònica del Departament de Ciència i Enginyeria de Materials del Campus Diagonal – Besòs dóna servei tant a la pròpia UPC, com a diferents entitats públiques i privades, i col·labora de forma estreta amb el Centre Multiescala i amb els grups de recerca BBT, CIEFMA, e-PLASCOM i PROCOMAME del propi Departament.

Entre les seves principals activitats destaquen l’estudi de superfícies, defectes, desgast, fatiga, fractura, etc, de materials metàl·lics, ceràmics, polimèrics i d’origen natural aplicant tècniques de microscòpia electrònica (SEM i TEM), espectroscòpia de difracció de Raigs – X (EDS) i anàlisi de textures cristal·logràfiques mitjançant difracció d’electrons retrodispersats (EBSD).

Recentment aquest laboratori ha resultat beneficiari d’un concurs públic d’infraestructures i adquirirà un equip de microscòpia electrònica de rastreig d’ultra alta resolució amb diferents espectrògrafs de difracció de Raigs – X capaços de detectar i quantificar elements lleugers, un difractòmetre d’electrons retrodispersats d’alta velocitat i un nano indentador in – situ. 

A continuació trobareu el llistat de preus vàlid fins a Desembre 2022. Si el servei requereix de preparació o d'algun servei addicional que no està tarifat, es facturarà a part. Contacta'ns per resoldre qualsevol dubte o contractar els nostres serveis. 

 

Serveis cientificotècnics

Tarifa (IVA no inclòs)

Microscopia FSEM – JEOL 7001F (inclou tècnic, preparació de mostres metal.logràfica, recobriment metàl.lic i EDS)

130 € / mostra o 350€ / h (es decideix la opció més favorable)

Microscopia SEM – JEOL 6400 (inclou tècnic, preparació de mostres metal.logràfica, recobriment metàl.lic i EDS)

100 € / mostra o 250€ / h (es decideix la opció més favorable)

Anàlisi de textures cristal.logràfiques mitjançant EBSD

300 € / mostra

Equipaments

  • Microscopi FSEM-JEOL 7001F
  • Microscopi SEM-JEOL 640